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日前,在SEMICON China 2019展期間,NI重點展示了其在半導體芯片和制造方面的測試方案,包括電源管理、5G射頻以及量產半導體?測試系統(STS),NI工程師向電子發燒友詳細介紹了這些測試領域面臨的挑戰以及NI的解決方案。
圖:電源管理芯片測試
PMIC測試面臨的挑戰在于芯片集成度越來越高,電源管理芯片除單一Buck電路外,還會面向多模擬輸出、數字芯片控制演進。從測試來看,芯片的I/O腳位越來越多,而類似IoT產品的低功耗要求對電源管理中的漏電電流檢測要求很高。NI工作人員表示,NI電源管理測試方案優勢在于可以高精度、高密度的源測量單元、示波器和Pattern數字波形生成儀器實對電源管理芯片進行效率、線性、負載調整率、瞬間響應等驗證分析及量產測試。而基于PXI平臺,NI方案可以高性能觸發實現多儀器精準同步。
圖:5G RF芯片測試方案
5G新空口(NR)采用了新的頻段和波束成形技術,具有更高的帶寬,這些特性給工程師帶來了嚴峻的設計和測試挑戰。NI推出了符合3GPP標準的sub-6G NR參考測試方案,其中RF IC測試方案支持802.11、2G、3G、4G以及5G NR等標準,目前的全新軟件已支持5G NR新波形OFDMA及DFT-s-OFDM等調制方式。